Zobrazeno 1 - 10
of 355
pro vyhledávání: '"Belova, L. A."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 12/28/2023, Vol. 134 Issue 24, p1-8, 8p
Publikováno v:
In Journal of Magnetism and Magnetic Materials 15 June 2020 504
Autor:
Belova, L. O.1, Golub, N. A.1 golub-n.a@mail.ru, Pletneva, M. V.1, Kirilina, N. I.2, Kirilin, A. D.1
Publikováno v:
Russian Journal of General Chemistry. Nov2022, Vol. 92 Issue 11, p2223-2227. 5p.
Autor:
Kataoka, T., Yamazaki, Y., Singh, V. R., Sakamoto, Y., Fujimori, A., Takeda, Y., Ohkochi, T., Fujimori, S. -I., Okane, T., Saitoh, Y., Yamagami, H., Tanaka, A., Kapilashrami, M., Belova, L., Rao, K. V.
Publikováno v:
Appl. Phys. Lett. 99, 132508 (2011)
We have investigated the electronic structure of ZnO:Mn and ZnO:Mn,N thin films using x-ray magnetic circular dichroism (XMCD) and resonance-photoemission spectroscopy. From the Mn 2$p$$\rightarrow3d$ XMCD results, it is shown that, while XMCD signal
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1201.0006
Autor:
Babushkina, N. A., Belova, L. M., Ozhogin, V. I., Gorbenko, O. Yu., Kaul, A. R., Bosak, A. A., Khomskii, D. I., Kugel, K. I.
The effect of 16O-18O isotope exchange on the electric resistivity was studied for (La(1-y)Pr(y))0.7Ca0.3MnO3 ceramic samples. Depending on y, this mixed perovskite exhibited different types of low-temperature behavior ranging from ferromagnetic meta
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/9805315
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pyata, E., Belova, L., Boeckmann, T., Kholopov, M., Konstantinov, V., Kulikov, V., Sellmann, D., Zhirnov, A., Zolotukhina, N.
Publikováno v:
In Physics Procedia 2015 67:868-873
Publikováno v:
Russian Journal of General Chemistry. May2021, Vol. 91 Issue 5, p820-827. 8p.
Autor:
Uhlén, F., Nilsson, D., Rahomäki, J., Belova, L., Schroer, C.G., Seiboth, F., Holmberg, A., Hertz, H.M., Vogt, U.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 25 March 2014 116:40-43