Zobrazeno 1 - 10 of 20 pro vyhledávání: '"Bellens, Simon"'
1
Report
Automatic and Computationally Efficient Alignment in Fan- and Cone-beam Tomography
Autor: Guerrero, Patricio, Bellens, Simon, Santander, Ricardo, Dewulf, Wim
This work is concerned with fan- and cone-beam computed tomography with circular source trajectory, where the reconstruction inverse problem requires an accurate knowledge of source, detector and rotational axis relative positions and orientations. W
Externí odkaz: http://arxiv.org/abs/2310.09567
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Machine learning in industrial X-ray computed tomography – a review
Autor: Bellens, Simon, Guerrero, Patricio, Vandewalle, Patrick, Dewulf, Wim
Publikováno v: In CIRP Journal of Manufacturing Science and Technology July 2024 51:324-341
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Deep learning based sinogram interpolation applied to X-ray CT measurements of polymer additive manufacturing parts
Autor: Bellens, Simon, janssens, michel, Vandewalle, patrick, Dewulf, wim
Large acquisition times are required to achieve high-quality XCT scans, because of the need for high exposure times and a large number of X-ray projections. Reducing the number of projections results in an increase in noise, artefacts in the reconstr
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1131::4765aed90d4798250ce7b678df49b8b8
https://lirias.kuleuven.be/handle/20.500.12942/695182
Zobrazit plný text záznamu
10
Exploratory research on the correlation of probability of detection and image quality during the tomographic characterisation of additive manufacturing defects
Autor: Sinico, Mirko, Bellens, Simon, van Herreweghen, Toon, Probst, Gabriel, Dewulf, Wim
This contribution reports on exploratory research to streamline the Probability of Detection (PoD) calculation for defect analysis with industrial X-ray Computed Tomography (XCT). Reliable, reproducible and universally applicable PoD information is b
Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1131::ef0252a0223367e484b2874dac54c902
https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/681045
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje