Výsledky vyhledávání - "Beech, C. D."

Akademický článek

Hydrogen induced positive charge generation in gate oxides.

Autor: Zhang, J. F., Zhao, C. Z., Groeseneken, G., Degraeve, R., Ellis, J. N., Beech, C. D.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 8/15/2001, Vol. 90 Issue 4, p1911, 9p, 11 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Interface state generation after hole injection.

Autor: Zhao, C. Z., Zhang, J. F., Groeseneken, G., Degraeve, R., Ellis, J. N., Beech, C. D.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 7/1/2001, Vol. 90 Issue 1, p328, 9p, 12 Graphs

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

Relation between hole traps and non-reactive hydrogen-induced positive charges

Autor: Zhang, J. F., Zhao, C. Z., Groeseneken, G., Degraeve, R., Ellis, J. N., Beech, C. D.

Publikováno v: Microelectronic Engineering; 2001, Vol. 59 Issue: 1 p67-72, 6p

Zobrazit plný text záznamu