Zobrazeno 1 - 10
of 16
pro vyhledávání: '"Bedrich J. Hosticka"'
Autor:
Arash Ahmadivand, Badriyah Alhalaili, Cesar Bartolo-Perez, Daniel Benedikovič, John E. Bowers, Werner Brockherde, Mario Caironi, Adriano Cola, Annalisa Convertino, Marc Currie, Pouya Dianat, Daniel Durini, Canek Fuentes-Hernandez, Soroush Ghandiparsi, Thomas A. Heuser, Bedrich J. Hosticka, M. Saif Islam, Hakan Karaagac, Mustafa Karabiyik, Gabriella Leo, Guo-Qiang Lo, Ahmed S. Mayet, Lisa N. Mcphillips, Ruth A. Miller, Bahram Nabet, Tadao Nagatsuma, Dario Natali, Matthew M. Ombaba, Nezih Pala, Uwe Paschen, Vincenzo Pecunia, Elif Peksu, Anna Persano, Molly Piels, Fabio Quaranta, Peter F. Satterthwaite, Debbie G. Senesky, Hongyun So, Ananth Saran Yalamarthy, Shiyang Zhu
Publikováno v:
Photodetectors ISBN: 9780081027950
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5746ebf52d9eda1070d3624bcbbc270f
https://doi.org/10.1016/b978-0-08-102795-0.00017-7
https://doi.org/10.1016/b978-0-08-102795-0.00017-7
A one-dimensional analytical model of charge transfer in charge-coupled devices, which describes the spatial-temporal behavior of the charge carrier density in a potential well, is presented. The general solution of this model considers the transfer
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::90d895afbabda38bea36dc1df0f40744
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/434122
https://publica.fraunhofer.de/handle/publica/434122
Publikováno v:
Photodetectors ISBN: 9780081027950
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::dd5640c322a3f876b79637ac0fceec38
https://doi.org/10.1016/b978-0-08-102795-0.00002-5
https://doi.org/10.1016/b978-0-08-102795-0.00002-5
Publikováno v:
International Journal of Circuit Theory and Applications. 37:179-192
In this work the effects of uniaxial mechanical stress on a pixel readout circuit are theoretically analyzed. It is the effects of mechanical stress on the in-pixel transistors do not arise at the output, when a correlated double sampling circuit is
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6a7372770db15628f2b4cabb28f1e410
One of the main trends of microelectronics is toward design for integrated systems, i.e., system-on-a-chip (SoC) or system-on-silicon (SoS). Due to this development, design techniques for mixed-signal circuits become more important than before. Among
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.