Zobrazeno 1 - 10
of 26
pro vyhledávání: '"Beckmeier, D."'
Autor:
Beckmeier, D., Martin, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2018 88-90:152-158
Autor:
Beckmeier, D., Martin, A.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2016 64:189-193
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2016 64:2-12
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nüssl, R., Senft, C., Beckmeier, D., Jewula, T., Ruile, W., Sulima, T., Hansch, W., Eisele, I.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2011 519(22):8154-8160
Autor:
Nüssl, R., Jewula, T., Binninger, C., Drozd, R., Ruile, W., Beckmeier, D., Sulima, T., Eisele, I., Hansch, W.
Publikováno v:
In Materials Characterization 2010 61(11):1054-1060
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.