Zobrazeno 1 - 10
of 95
pro vyhledávání: '"Baumann, P.K."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Morvan, S., Andrieu, F., Leroux, C., Garros, X., Cassé, M., Martin, F., Gassilloud, R., Morand, Y., Le Royer, C., Besson, P., Roure, M.-C., Euvrard, C., Rivoire, M., Seignard, A., Desvoivres, L., Barnola, S., Allouti, N., Caubet, P., Weber, U., Baumann, P.K., Weber, O., Tosti, L., Perreau, P., Ponthenier, F., Ghibaudo, G., Poiroux, T.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering September 2013 109:306-309
Autor:
Abrutis, A., Lukosius, M., Saltyte, Z., Galvelis, R., Baumann, P.K., Schumacher, M., Lindner, J.
Publikováno v:
In Thin Solid Films 2008 516(15):4758-4764
Autor:
Longo, M., Salicio, O., Wiemer, C., Fallica, R., Molle, A., Fanciulli, M., Giesen, C., Seitzinger, B., Baumann, P.K., Heuken, M., Rushworth, S.
Publikováno v:
In Journal of Crystal Growth 2008 310(23):5053-5057
Autor:
Manke, C., Boissière, O., Weber, U., Barbar, G., Baumann, P.K., Lindner, J., Tapajna, M., Fröhlich, K.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2277-2281
Autor:
Manke, C., Miedl, S., Boissiere, O., Baumann, P.K., Lindner, J., Schumacher, M., Brodyanski, A., Scheib, M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2005 82(3):242-247
Autor:
Weber, U. *, Schumacher, M., Lindner, J., Boissière, O., Lehnen, P., Miedl, S., Baumann, P.K., Barbar, G., Lohe, C., McEntee, T.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(5):945-948
Autor:
Fröhlich, K. *, Cambel, V., Machajdı́k, D., Baumann, P.K., Lindner, J., Schumacher, M., Juergensen, H.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2002 5(2):173-177
Autor:
Schumacher, M. *, Lindner, J., Baumann, P.K., Schienle, F., Solayappan, N., Joshi, V., Araujo, C.A., McMillan, L.D.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing 2002 5(2):85-91
Autor:
Valet, O. ∗, Doppelt, P., Baumann, P.K., Schumacher, M., Balnois, E., Bonnet, F., Guillon, H.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2002 64(1):457-463