Zobrazeno 1 - 10
of 87
pro vyhledávání: '"Batyrev, I.G."'
Autor:
Batyrev, I.G.1 (AUTHOR) iskander.g.batyrev.civ@mail.mil, Cifligu, P.2 (AUTHOR), Pineda, K. A.2 (AUTHOR), Coleman, S. P.1 (AUTHOR), Pravica, M.2 (AUTHOR)
Publikováno v:
High Pressure Research. Mar2021, Vol. 41 Issue 1, p52-64. 13p.
Autor:
Pantelides, Sokrates T., Tsetseris, L., Beck, M.J., Rashkeev, S.N., Hadjisavvas, G., Batyrev, I.G., Tuttle, B.R., Marinopoulos, A.G., Zhou, X.J., Fleetwood, D.M., Schrimpf, R.D.
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2010 54(9):841-848
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):2344-2349
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
An entire family of nano scale trenches, ridges, and steps has been observed experimentally on AsH3 exposed Si 100 . Some of these line structures have been observed previously, but their structures have remained a mystery. Theoretical modeling shows
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3680::221978ca8c5f7f8e7d479ebc5dcc991c
http://www.helmholtz-berlin.de/pubbin/oai_publication?VT=1&ID=18232
http://www.helmholtz-berlin.de/pubbin/oai_publication?VT=1&ID=18232
