Zobrazeno 1 - 1 of 1 pro vyhledávání: '"Basile, Bart"'
1
Conference
Improving microcontroller (MCU) immunity performance to system-level ESD/EFT testing through PCB system co-design methodology.
Autor: Murugan, Rajen, Jie Chen, Minhong Mi, Basile, Bart, Jae Park
Publikováno v: Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings 2014; 2014, p1-9, 9p
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje