Zobrazeno 1 - 10
of 47
pro vyhledávání: '"Bashar, E."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Autor:
Renz, A.B., Vavasour, O.J., Gammon, P.M., Li, F., Dai, T., Antoniou, M., Baker, G.W.C., Bashar, E., Grant, N.E., Murphy, J.D., Mawby, P.A., Shah, V.A.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing February 2021 122
Autor:
Bassam Al-Naami, Bashar E. A. Badr, Yahia Z. Rawash, Hamza Abu Owida, Roberto De Fazio, Paolo Visconti
Publikováno v:
Journal of Imaging, Vol 9, Iss 1, p 14 (2023)
The prevalence of neck pain, a chronic musculoskeletal disease, has significantly increased due to the uncontrollable use of social media (SM) devices. The use of SM devices by younger generations increased enormously during the COVID-19 pandemic, be
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/1eb4275093fc478cbeee94ca0e6d8db7
Autor:
Badr, Bashar E. A., Altawil, Ibrahim, Almomani, Mohammed, Al-Saadi, Mohammed, Alkhurainej, Mohammad
Publikováno v:
Mathematical Modelling of Engineering Problems; Oct2023, Vol. 10 Issue 5, p1727-1736, 10p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Alatise, Olayiwola, Bashar, E., Wu, Ruizhu, Agbo, Nereus, Mendy, Simon, Jahdi, Saeed, Gonzalez, Jose Ortiz, Mawby, Philip
Publikováno v:
Alatise, O, Bashar, E, Wu, R, Agbo, N, Mendy, S, Jahdi, S, Gonzalez, J O & Mawby, P 2022, A Comparison of the Short Circuit Performance of 650 V SiC Planar MOSFETs, Trench MOSFETs and Cascode JFETs . in 11th International Conference on Power Electronics, Machines and Drives (PEMD 2022) . Institution of Engineering and Technology (IET), Hybrid Conference, Newcastle, UK, pp. 335-339, 11th International Conference on Power Electronics, Machines and Drives (PEMD 2022), Newcastle, United Kingdom, 21/06/22 . https://doi.org/10.1049/icp.2022.1071
Short circuits that occur in power converters put the power semiconductor devices under considerable electrothermal stress. The electrothermal stress causes a rise in junction temperature and ultimately device failure if the thermal limits of the dev
Autor:
Bashar E. Assamak, Muslim Q. Hasan
Publikováno v:
2020 International Conference on Resources Management.
يهدف البحث الى معرفة وجود العلاقة والاثر بين متطلبات نظام ((ERP والاداء المنظمي في مصنع الالبسة الجاهزة – نينوى ليمثل مجتمع البحث،وشملت عي
Autor:
Al-Naami, Bassam, Badr, Bashar E. A., Rawash, Yahia Z., Owida, Hamza Abu, De Fazio, Roberto, Visconti, Paolo
Publikováno v:
Journal of Imaging; Jan2023, Vol. 9 Issue 1, p14, 35p