Zobrazeno 1 - 10
of 1 431
pro vyhledávání: '"Baruffaldi F."'
Autor:
Fröjdh, E., Baruffaldi, F., Bergamaschi, A., Carulla, M., Dinapoli, R., Greiffenberg, D., Heymes, J., Hinger, V., Ischebeck, R., Mathisen, S., McKenzie, J., Mezza, D., Moustakas, K., Mozzanica, A., Schmitt, B., Zhang, J.
Electrons are emerging as a strong complement to X-rays for diffraction based studies. In this paper we investigate the performance of a JUNGFRAU detector with 320 um thick silicon sensor at a pulsed electron source. Originally developed for X-ray de
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2210.16199
Autor:
project, ALICE ITS, Rinella, G. Aglieri, Agnello, M., Alessandro, B., Agnese, F., Akram, R. S., Alme, J., Anderssen, E., Andreou, D., Antinori, F., Apadula, N., Atkinson, P., Baccomi, R., Badalà, A., Balbino, A., Bartels, C., Barthel, R., Baruffaldi, F., Belikov, I., Beole, S., Becht, P., Bhatti, A., Bhopal, M., Bianchi, N., Blidaru, M. B., Boca, G., Bok, J., Bonomi, G., Bonora, M., Borri, M., Borshchov, V., Botta, E., Bruno, G. E., Buckland, M., Bufalino, S., Cai, M., Camerini, P., Cariola, P., Catalano, F., Sanchez, C. Ceballos, Chakaberia, I., Chartier, M., Colamaria, F., Colella, D., Collu, A., Concas, M., Contin, G., Costanza, S., Cui, P., Dainese, A., Dainton, J. B., De Cilladi, L., De Martin, C., De Robertis, G., Deng, W., Di Mauro, A., Ding, Y., Durkac, M., Elia, D., Ersdal, M. R., Faggin, M., Fan, F., Fantoni, A., Fecchio, P., Feliciello, A., Feofilov, G., Ferk, A., Ferencei, J., Fiorenza, G., Flores, A. N., Fragiacomo, E., Gajanana, D., Gal, A., Gao, C., Gargiulo, C., Gianotti, P., Giubilato, P., Grant, A., Greiner, L., Grelli, A., Groettvik, O. S., Grosa, F., Hu, C. Guo, Hannigan, R., Hasenbichler, J. A., Helstrup, H., Hillemanns, H., Hills, C., Hindley, P., Hippolyte, B., Hofman, B., Hong, G. H., Huang, G., Iddon, J. P., Ilyas, H., Imhoff, M. A., Isakov, A., Jadlovska, A., Jadlovska, S., Jadlovsky, J., Jaelani, S., Johnson, T., Junique, A., Kalinak, P., Kalweit, A., Keil, M., Khabanova, Z., Khan, H., Kim, B., Kim, C., Kim, J., Kim, T., Klein, J., Kluge, A., Kobdaj, C., Kotliarov, A., Králik, I., Krizek, F., Kugathasan, T., Kuhn, C., Kuijer, P. G., Kushpil, S., Kweon, M. J., Kwon, J. Y., Kwon, Y., La Rocca, P., Lakrathok, A., Langoy, R., Larionov, P., Laudi, E., Lazareva, T., Lea, R., Lemmon, R. C., Li, X. L., Lien, J., Lim, B., Lim, S. H., Lindsay, S., Liu, A., Liu, J., Lunardon, M., Luparello, G., Lupi, M., Mager, M., Maire, A., Malik, Q. W., Mandaglio, G., Manzari, V., Mao, Y., Margagliotti, G. V., Markert, C., Marras, D., Martinengo, P., Masciocchi, S., Masera, M., Masoni, A., Mastroserio, A., Matuoka, P. F. T., Mazza, G., Mazzaschi, F., Mazzoni, M. A., Morel, F, Muccifora, V., Mulliri, A., Musa, L., Nesbo, S. V., Nesterov, D., Norman, J., Park, J., Patra, R. N, Pastore, C., Pei, H., Peng, X., Piano, S., Pinto, C., Pisano, S., Politano, S., Prakasa, E., Prino, F., Protsenko, M., Puccio, M., Rachevski, A., Ramello, L., Rami, F., Ravasenga, I., Rehman, A., Reidt, F., Riggi, F., Røed, K., Röhrich, D., Ronchetti, F., Rosano, A., Rossewij, M. J., Rossi, A., Rui, R., Russo, R., Sadikin, R., Sarritzu, V., Schambach, J., Senyukov, S., Seo, J. J., Shahoyan, R., Shaukat, S., Siddhanta, S., Sitta, M., Snellings, R. J. M., Snoeys, W., Songmoolnak, A., Sonneveld, J., Soramel, F., Suljic, M., Sumowidagdo, S., Sun, D., Sun, X., Tambave, G. J., Tersimonov, G., Tkacik, M., Toppi, M., Trifiró, A., Trogolo, S., Trubnikov, V., Turrisi, R., Tveter, T. S., Tymchuck, I., Ullaland, K., Urioni, M., Usai, G. L., Valle, N., van Doremalen, L. V. R., Vanat, T., Van Hoorne, J. W., Varga-Kofarago, M., Velure, A., Wang, D., Wang, Y., Wikne, J., Wright, J. R., Xu, R., Yang, P., Yin, Z., Yoo, I. -K., Yoon, J. H., Yuan, S., Zaccolo, V., Zhang, E., Zhang, X., Zherebchevskii, V., Zhou, D., Zhu, J., Zhu, Y., Zinovjev, G., Zurlo, N.
A novel approach for designing the next generation of vertex detectors foresees to employ wafer-scale sensors that can be bent to truly cylindrical geometries after thinning them to thicknesses of 20-40$\mu$m. To solidify this concept, the feasibilit
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2105.13000
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.