Výsledky vyhledávání - "Barros, Maxime Garcia"

Investigation of electrical activity at the AlN/Si interface using scanning capacitance microscopy and scanning spreading resistance microscopy

Autor: Bah, Micka, Valente, Damien, Lesecq, Marie, Defrance, N., Barros, Maxime Garcia, De Jaeger, Jean-Claude, Frayssinet, Eric, Comyn, Remi, Ngo, Thi Huong, Alquier, Daniel, CORDIER, Yvon

Publikováno v: Wocsdice Exmatec 2021
Wocsdice Exmatec 2021, Jun 2021, Bristol (virtual), United Kingdom. pp.131-132

ORAL; International audience; This work aims to understand the origin of propagation losses in GaN-on-Si devices at microwave frequencies thanks to original AFM's electrical modes such as scanning capacitance microscopy (SCM) and scanning spreading r

Externí odkaz: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::f8a7b27b8f9307f2ff9444b735ef788c
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03284079/document

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání