Zobrazeno 1 - 10
of 77
pro vyhledávání: '"Barrett, Geoff"'
Publikováno v:
Philosophical Transactions: Physical Sciences and Engineering, 1992 Apr . 339(1652), 3-19.
Externí odkaz:
https://www.jstor.org/stable/54009
Autor:
Koopman, Philip, Hierons, Rob, Khastgir, Siddartha, Clark, John, Fisher, Michael, Alexander, Rob, Eder, Kerstin, Thomas, Pete, Barrett, Geoff, Torr, Philip, Blake, Andrew, Ramamoorthy, Subramanian, McDermid, John Alexander
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=core_ac_uk__::9edee68fc8be5b58fc30e51d44342396
https://eprints.whiterose.ac.uk/160312/1/fiveai_cert_paper_v1.pdf
https://eprints.whiterose.ac.uk/160312/1/fiveai_cert_paper_v1.pdf
Autor:
Barrett, Geoff *
Publikováno v:
In International Journal of Psychophysiology 2000 37(1):49-53
Autor:
Barrett, Geoff1 geoff.barrett@dec.wa.gov.au, Trappe, James M.2 trappej@onid.orst.edu, Drew, Alex, Stol, Jacqui, Freudenberger, David
Publikováno v:
Ecological Management & Restoration. Dec2009, Vol. 10 Issue 3, p200-209. 10p. 7 Black and White Photographs, 1 Diagram, 9 Charts.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Ioannides, C, Barrett, G & Eder, K 2011, Feedback-based Coverage Directed test Generation : An industrial evaluation . in S Barner, I Harris, D Kroening & O Raz (eds), Hardware and Software: Verification and Testing : 6th International Haifa Verification Conference, HVC 2010, Haifa, Israel, October 4-7, 2010. Revised Selected Papers . Lecture Notes in Computer Science, vol. 6504, Springer, pp. 112-128, 6th Haifa Verification Conference (HVC), Haifa, Israel, 1/10/10 . https://doi.org/10.1007/978-3-642-19583-9
Although there are quite a few approaches to Coverage Directed test Generation aided by Machine Learning which have been applied successfully to small and medium size digital designs, it is not clear how they would scale on more elaborate industrial-
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______2642::c29e225145d30e09c5c49c730ff16d5d
http://www.cs.bris.ac.uk/Publications/pub_master.jsp?id=2001285
http://www.cs.bris.ac.uk/Publications/pub_master.jsp?id=2001285