Zobrazeno 1 - 10
of 27
pro vyhledávání: '"Bancken, P.H.L."'
Autor:
Daamen, R., Bancken, P.H.L., Nguyen, V.H., Humbert, A., Verheijden, G.J.A.M., Hoofman, R.J.O.M.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2007 84(9):2177-2183
Autor:
Hoofman, R.J.O.M., Caluwaerts, R., Michelon, J., Herrero Bernabé, P., Gueneau de Mussy, J.P., Bruynseraede, C., Lee, J.M., List, S., Bancken, P.H.L., Beyer, G.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2150-2154
Autor:
Chhun, S., Gosset, L.G., Michelon, J., Girault, V., Vitiello, J., Hopstaken, M., Courtas, S., Debauche, C., Bancken, P.H.L., Gaillard, N., Bryce, G., Juhel, M., Pinzelli, L., Guillan, J., Gras, R., Van Schravendijk, B., Dupuy, J.-C., Torres, J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2006 83(11):2094-2100
Autor:
Gosset, L.G., Farcy, A., de Pontcharra, J., Lyan, Ph., Daamen, R., Verheijden, G.J.A.M., Arnal, V., Gaillard, F., Bouchu, D., Bancken, P.H.L., Vandeweyer, T., Michelon, J., Hoang, V. Nguyen, Hoofman, R.J.O.M., Torres, J.
Publikováno v:
In Microelectronic Engineering 2005 82(3):321-332
Autor:
Michelon, J., Waeterloos, J., Bancken, P.H.L., Nguyen, V.H., Caluwaerts, R., Beyer, G., Rozeveld, S., Beach, E., Hoofman, R.J.O.M.
Publikováno v:
2006 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings; 2006, p496-501, 6p
Autor:
Arnal, V., Hoofman, R.J.O.M., Assous, M., Bancken, P.H.L., Brokaart, M., Brun, P., Casanova, N., Chapelon, L.L., Chevolleau, T., Cowache, C., Daamen, R., Farcy, A., Fayolle, M., Feldis, H., Furukawa, Y., Goldberg, C., Gosset, L.G., Guedj, C., Haxaire, K., Hinsinger, O.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2004 International Interconnect Technology Conference (IEEE Cat. No.04TH8729); 2004, p202-240, 39p
Autor:
Daamen, R., Bancken, P.H.L., Emur Badaroglu, D., Michelon, J., Nguyen, V.H., Verheijden, G.J.A.M., Humbert, A., Waeterloos, J., Yang, A., Cheng, J.K., Chen, L., Martens, T., Hoofman, R.J.O.M.
Publikováno v:
2007 IEEE International Interconnect Technology Conference; 2007, p61-63, 3p
Autor:
Daamen, R., Verheijden, G.J.A.M., Bancken, P.H.L., Vandeweyer, T., Michelon, J., Nguyen Hoang, V., Hoofman, R.J.O.M., Gallagher, M.K.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2005 International Interconnect Technology Conference, 2005; 2005, p240-242, 3p
Autor:
Hoofman, R.J.O.M., Michelon, J., Bancken, P.H.L., Daamen, R., Verheijden, G.J.A.M., Arnal, V., Hinsinger, O., Gosset, L.G., Humbert, A., Besling, W.F.A., Goldberg, C., Fox, R., Michaelson, L., Guedj, C., Guillaumond, J.F., Jousseaume, V., Arnaud, L., Gravesteijn, D.J., Torres, J., Passemard, G.
Publikováno v:
Proceedings of the IEEE 2005 International Interconnect Technology Conference, 2005; 2005, p85-87, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.