Výsledky vyhledávání - "Bakshee, I. S."

Akademický článek

Grain size dependence of 1/f noise in Al-Cu thin-film interconnections.

Autor: Schwarz, J. A., Patrinos, A. J., Bakshee, I. S., Salkov, E. A., Khizhnyak, B. I.

Publikováno v: Journal of Applied Physics; 8/1/1991, Vol. 70 Issue 3, p1561, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Akademický článek

Reliability aspects of the low-frequency noise behaviour of submicron CMOS technologies.

Autor: Simoen, E., Claeys, C.

Publikováno v: Semiconductor Science & Technology; Aug1999, Vol. 14 Issue 8, p1-1, 1p

Zobrazit plný text záznamu

Elektronická kniha

Advances in Electronics and Electron Physics

Autor: Hawkes, P. W.

Advances in Electronics and Electron Physics

Zobrazit plný text záznamu