Zobrazeno 1 - 10 of 10 pro vyhledávání: '"Baiocchi, Frank A."'
1
Akademický článek
Electron-impact ionization cross sections of the SiF3 free radical.
Autor: Hayes, Todd R., Shul, Randy J., Baiocchi, Frank A., Wetzel, Robert C., Freund, Robert S.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; 10/1/1988, Vol. 89 Issue 7, p4035, 7p
Zobrazit plný text záznamu
2
Akademický článek
Electron impact ionization cross sections of SiF2.
Autor: Shul, Randy J., Hayes, Todd R., Wetzel, Robert C., Baiocchi, Frank A., Freund, Robert S.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; 10/1/1988, Vol. 89 Issue 7, p4042, 6p
Zobrazit plný text záznamu
3
Akademický článek
Absolute cross sections for electron-impact ionization and dissociative ionization of the SiF free radical.
Autor: Hayes, Todd R., Wetzel, Robert C., Baiocchi, Frank A., Freund, Robert S.
Publikováno v: Journal of Chemical Physics; 1/15/1988, Vol. 88 Issue 2, p823, 7p
Zobrazit plný text záznamu
4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
5
Conference
Asymmetric gate resistor power MOSFET.
Autor: Wang, Jun, Xu, Shuming, Korec, Jacek, Baiocchi, Frank
Publikováno v: 2012 24th International Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs; 1/ 1/2012, p409-412, 4p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
7
Akademický článek
New silicon-rich silylating reagents for dry-developed positive-tone deep-ultraviolet lithography.
Autor: Wheeler, David R., Hutton, Skip, Stein, Susan, Baiocchi, Frank, Cheng, May, Taylor, Gary
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 1993, Vol. 11 Issue 6, p2789-2793, 5p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Microscopy of Materials Used In the Semiconductor Industry.
Autor: Merchant, Sailesh M., DeLucca, John M., Hooghan, Kultaransingh N., Baiocchi, Frank A.
Publikováno v: Microscopy & Microanalysis; 2005 Supplement, Vol. 11, p1326-1327, 2p
Zobrazit plný text záznamu
9
Conference
Rutherford Backscattering (RBS) and Channeling Studies of Defects in Arsenic Implanted Silicon Induced by Arsenic Clustering.
Autor: Baiocchi, Frank A., Kamgar, Avid
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 01/16/1986, Vol. 82, pN.PAG-1, 1p
Zobrazit plný text záznamu
10
Akademický článek
Partial molar heat capacities at infinite dilution for alkane systems using gas-liquid chromatography
Autor: Meyer, Edwin F, Baiocchi, Frank A
Publikováno v: In The Journal of Chemical Thermodynamics 1977 9(11):1051-1055
Zobrazit plný text záznamu

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje