Zobrazeno 1 - 10
of 283
pro vyhledávání: '"Baier, L."'
Autor:
Pourteau, M.-L., Gharbi, A., Brianceau, P., Dallery, J.-A., Laulagnet, F., Rademaker, G., Tiron, R., Engelmann, H.-J., von Borany, J., Heinig, K.-H., Rommel, M., Baier, L.
Publikováno v:
In Micro and Nano Engineering November 2020 9
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Heinig, K.-H., Borany, J., Engelmann, H.-J., Hlawacek, G., Hübner, R., Klüpfel, F., Möller, W., Pourteau, M.-L., Rademaker, G., Rommel, M., Baier, L., Pichler, P., Tiron, R.
Publikováno v:
EMRS 2022 Fall Meeting, 19.-22.09.2022, Warsaw, Poland
Low-power logic and memory circuits remain a main task for the next generations of energy-efficient electronic devices. Single Electron Transistors (SETs) are extremely low energy dissipation devices. However, SETs operate usually at cryogenic temper
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::6d97847ff8f540e6a76cd3ce7e6134b3
https://www.hzdr.de/publications/Publ-36467-1
https://www.hzdr.de/publications/Publ-36467-1
Autor:
Borany, J., Engelmann, Hans-Jürgen, Heinig, K.-H., Hlawacek, G., Hübner, R., Klüpfel, F., Möller, W., Pourteau, M.-L., Rademaker, G., Rommel, M., Baier, L., Pichler, P., Tiron, R.
Publikováno v:
Publication date: 2022-07-11 Open accessDOI: 10.14278/rodare.1804Versions: 10.14278/rodare.1805License: CC-BY-4.0
The data included in the publication are results of SET device simulations, Monte-Carlo simulations of physical processes (ion-beam mixing, phase seepration, Si nanodot formation) and micrographs taken by electron and ion microscopes.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::6b578ace376a7530a98bf87834492a85
https://www.hzdr.de/publications/Publ-34906-1
https://www.hzdr.de/publications/Publ-34906-1
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.