Zobrazeno 1 - 10
of 19
pro vyhledávání: '"Baiano, Alessandro"'
Autor:
Ryoichi Ishihara, Johan van der Cingel, Kees Beenakker, M. R. Tajari Mofrad, Hugo Schellevis, Tao Chen, Baiano Alessandro
Publikováno v:
2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
We report high performance (100) and (110) oriented single-grain thin-film-transistors (SG-TFTs) fabricated below 600°C without any seed substrate. The orientation has been contolled by ¼-Czochralski process with the excimer laser. Field-effect mob
Autor:
Baiano, Alessandro, van Duuren, Michiel, van der Vegt, Erik, Schippers, Bob, Beurze, Robert, Tajari Mofrad, Daniel, van Zwol, Hans, Chen, Yu, Chiang, Jed, Lokker, Han, van Dijk, Kitty, Verbree, Jouke, Chen, Yi Ning, Garbe, Jochen, Verhaar, Rob, Dormans, Do
Publikováno v:
2015 IEEE International Memory Workshop (IMW); 2015, p1-4, 4p
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2009, Vol. 1153 Issue 1, p1-11, 11p
Autor:
Mohammad, Reza Tajari Mofrad, Ishihara, Ryoichi, Derakhshandeh, Jaber, Baiano, Alessandro, van der Johan, Cingel, Beenakker, Cees
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 2008, Vol. 1066 Issue 1, p1-7, 7p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Saputra, Nitz, Danesh, Mina, Baiano, Alessandro, Ishihara, Ryoichi, Long, John R., Karaki, Nobuo, Inoue, Satoshi
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; Jul2008, Vol. 43 Issue 7, p1563-1576, 14p, 7 Black and White Photographs, 9 Diagrams, 5 Charts, 10 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Ishihara, Ryoichi, Baiano, Alessandro, Chen, Tao, Derakhshandeh, Jaber, Mofrad, Tajari, Danesh, Mina, Saputra, Nitz, Long, John R.
Publikováno v:
ECS Transactions; July 2009, Vol. 22 Issue: 1 p57-68, 12p
Publikováno v:
ECS Transactions; October 2008, Vol. 16 Issue: 9 p153-157, 5p