Zobrazeno 1 - 10
of 35
pro vyhledávání: '"Bai, Fujun"'
Autor:
Jiang, Xiping, Bai, Fujun, Wang, Song, Guo, Yixin, Zuo, Fengguo, Xiao, Wenwu, Wang, Yubing, Yang, Jianguo, Liu, Ming
Publikováno v:
Journal of Semiconductors; Oct2024, Vol. 45 Issue 10, p1-12, 12p
Autor:
He, Shaojian, Bai, Fujun, Liu, Shanxin, Ma, Hongfei, Hu, Jianbin, Chen, Lin, Lin, Jun, Wei, Gaosheng, Du, Xiaoze
Publikováno v:
In Polymer Testing December 2017 64:92-100
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Bai, Fujun, Wang, Song, Jia, Xuerong, Guo, Yixin, Yu, Bing, Wang, Hang, Lai, Cong, Ren, Qiwei, Sun, Hongbin
Publikováno v:
IEEE Transactions on Very Large Scale Integration Systems; January 2023, Vol. 31 Issue: 1 p128-141, 14p
Autor:
Zhan Qiong, Wang Kexin, Tan Jie, Wang Zhengwen, Li Jin, Ren Qiwei, Cheichan Kau, L. V. Hangbing, Wang Chunjuan, Sun Peng, Ching-Sung Ho, David Yang, Duan Huifu, Wang Song, Li Hua, Sun Hongbin, Kang Yi, Long Xiaodong, Wang Fan, Yu Guoqing, Jia Xuerong, Yu Bing, Yang Daohong, Li Qiannan, Fu Ni, Zhou Jun, Zuo Fengguo, Liu Ming, Jiang Xiping, Bai Liang, Li Mei, Bai Fujun, Hu Sheng
Publikováno v:
2020 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM).
Increasing demand for DRAM scaling and high-bandwidth has driven DRAM technology to 3D/2.5D integration. With the innovative Hybrid Bonding technology, a new Stacked Embedded DRAM (SEDRAM) architecture was developed on LPDDR4/4X product. In this SEDR
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::de26f428b32e9290295760db8bbfafbd
https://doi.org/10.1109/iedm13553.2020.9372039
https://doi.org/10.1109/iedm13553.2020.9372039
Autor:
Shaojian He, Jun Lin, Gaosheng Wei, Jianbin Hu, Ma Hongfei, Shanxin Liu, Bai Fujun, Lin Chen, Xiaoze Du
Publikováno v:
Polymer Testing. 64:92-100
To better understand the effect of rectorite and carbon black (CB) on the aging performance of styrene-butadiene rubber (SBR), SBR/CB, SBR/CB/rectorite and SBR/rectorite nanocomposites with the same total filler loading were prepared. The microstruct
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::31192f4219c9611cec077c7d908e783a
https://doi.org/10.1016/j.polymertesting.2017.09.017
https://doi.org/10.1016/j.polymertesting.2017.09.017
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wu Baofeng, Duan Huifu, Alessandro Minzoni, Xiong Baoyu, Xiaofei Xue, Qiwei Ren, Bing Yu, Xiaowei Han, Bai Fujun, Weizhe Song, Fu Ni
Publikováno v:
ASICON
A two-port SRAM, which uses a single-port cell array and a self-timed write-after-read control scheme, is proposed. A 64-kb two-port SRAM is fabricated in 40nm low-leakage logic process. Taking advantages of the single-port cell, the bit-density of o
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::7195379ce0d15edd3691f91d6f8ebaf0
https://doi.org/10.1109/asicon.2017.8252504
https://doi.org/10.1109/asicon.2017.8252504