Zobrazeno 1 - 10
of 97
pro vyhledávání: '"Bahman, Amir Sajjad"'
Autor:
Zhang, Kaichen, Bahman, Amir Sajjad, Iannuzzo, Francesco, Chopade, Amol Ramesh, Holst, Jørgen, Rao, Jyothsna Murli, Bahrebar, Sajjad, Ambat, Rajan
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2023 150
Autor:
Fogsgaard, Martin Bendix, Zhang, Yi, Bahman, Amir Sajjad, Iannuzzo, Francesco, Blaabjerg, Frede
Publikováno v:
In e-Prime - Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy September 2023 5
Autor:
Xue, Peng, Bahman, Amir Sajjad, Iannuzzo, Francesco, Gudla, Helene Conseil, Lakkaraju, Anish Rao, Ambat, Rajan
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability December 2022 139
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2022 138
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2021 126
Autor:
Gao, Yue, Takata, Shuhei, Chen, Chuantong, Nagao, Shijo, Suganuma, Katsuaki, Bahman, Amir Sajjad, Iannuzzo, Francesco
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Autor:
Jiang, Maogong, Fu, Guicui, Fogsgaard, Martin Bendix, Bahman, Amir Sajjad, Yang, Yongheng, Iannuzzo, Francesco
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.