Zobrazeno 1 - 10
of 312
pro vyhledávání: '"Bafleur, M."'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2017 76-77:685-691
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability September 2016 64:88-92
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability November 2015 55(11):2276-2283
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability August-September 2015 55(9-10):1476-1480
Publikováno v:
In Solid State Electronics 2008 52(5):663-674
Publikováno v:
In Microelectronics Journal August 2006 37(8):804-811
Autor:
Essely, F., Darracq, F., Pouget, V., Remmach, M., Beaudoin, F., Guitard, N., Bafleur, M., Perdu, P., Touboul, A., Lewis, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2006 46(9):1563-1568
Autor:
Guitard, N., Essely, F., Trémouilles, D., Bafleur, M., Nolhier, N., Perdu, P., Touboul, A., Pouget, V., Lewis, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2005 45(9):1415-1420
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1551-1556
Autor:
Beauchêne, T., Lewis, D., Beaudoin, F., Pouget, V., Desplats, R., Fouillat, P., Perdu, P., Bafleur, M., Tremouilles, D.
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2003 43(3):439-444