Zobrazeno 1 - 10
of 42
pro vyhledávání: '"Baert, Rogier"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Karageorgos, Ioannis, Stucchi, Michele, Raghavan, Praveen, Ryckaert, Julien, Tokei, Zsolt, Verkest, Diederik, Baert, Rogier, Sakhare, Sushil, Dehaene, Wim
Publikováno v:
Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2015.
The introduction of Multiple Patterning (MP) in sub-32nm technology nodes may pose severe variability problems in wire resistance and capacitance of IC circuits. In this paper we evaluate the impact of this variability on the performance of SRAM cell
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c217f9f62c1c86c8f71c9fad554ffcb7
https://doi.org/10.7873/date.2015.0932
https://doi.org/10.7873/date.2015.0932
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Fievet, Nathalie, Raghavan, Praveen, Baert, Rogier, Robert, Frederic, Mercha, Abdelkarim, Verkest, Diederik, Thean, Aaron
Publikováno v:
2015 International Conference on IC Design & Technology (ICICDT); 2015, p1-4, 4p
Autor:
Baert, Rogier, Ciofi, Ivan, Wilson, Christopher J., Gonzalez, Victor Vega, Bommels, Jurgen, Tokei, Zsolt, Ryckaert, Julien, Raghavan, Praveen, Mercha, Abdelkarim, Verkest, Diederik
Publikováno v:
2015 IEEE International Interconnect Technology Conference & 2015 IEEE Materials for Advanced Metallization Conference (IITC/MAM); 2015, p135-138, 4p