Zobrazeno 1 - 10
of 39
pro vyhledávání: '"Baeck, Ju Heyuck"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Yang, Tae Jun, Kim, Je-Hyuk, Ryoo, Chang II, Myoung, Seung Joo, Kim, Changwook, Baeck, Ju Heyuck, Bae, Jong-Uk, Noh, Jiyong, Lee, Seok-Woo, Park, Kwon-Shik, Kim, Jeom-Jae, Yoon, Soo-Young, Kim, Yoon, Kim, Dae Hwan
Publikováno v:
IEEE Transactions on Electron Devices; January 2023, Vol. 70 Issue: 1 p121-126, 6p
Autor:
Park, Jaeyoon, Kim, Yong-Sung, Baeck, Ju-Heyuck, Park, Sehee, Seo, Jungseok, Noh, Jiyong, Park, Kwon-Shik, Kim, JeomJae, Yoon, SooYoung
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers; Jun2022, Vol. 53 Issue 1, p1089-1091, 3p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Jang, Jun Tae, Yu, Hye Ri, Ahn, Geumho, Choi, Sung-Jin, Kim, Dong Myong, Kim, Yong-Sung, Oh, Saeroonter, Baeck, Ju Heyuck, Bae, Jong Uk, Park, Kwon-Shik, Yoon, Soo Young, Kang, In Byeong, Kim, Dae Hwan
Publikováno v:
SID Symposium Digest of Technical Papers; May2018, Vol. 49 Issue 1, p232-235, 4p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.