Zobrazeno 1 - 10
of 24
pro vyhledávání: '"Bachhofer, H."'
Publikováno v:
J.Phys.D: Appl.Phys.34 (2001) A173-A178
The structural interface properties of layered Pt/Ti/SiO2/Si electrodes have been investigated using high-resolution specular and diffuse x-ray reflectivity under grazing angles. Currently this multilayer system represents a technological standard as
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/cond-mat/0010467
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 3/1/2001, Vol. 89 Issue 5, p2791, 10p, 4 Diagrams, 2 Charts, 9 Graphs
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
MRS Online Proceedings Library; 1999, Vol. 596 Issue 1, p437-442, 6p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hartner, W., Bosk, P., Schindler, G., Bachhofer, H., Mört, M., Wendt, H., Mikolajick, T., Dehm, C., Schroeder, H., Waser, R.
Publikováno v:
Applied Physics A: Materials Science & Processing; 2003, Vol. 77 Issue 3/4, p571, 9p