Zobrazeno 1 - 10
of 2 998
pro vyhledávání: '"BADALA, A"'
Autor:
Barcellona, M., Badalà, P., Boscaglia, M., Cantiano, M., Mello, D., Ferlito, E., Pirnaci, M.D., Tenaglia, D., Fragalà, M.E.
Publikováno v:
In Materials Science in Semiconductor Processing May 2024 174
Autor:
project, ALICE ITS, Rinella, G. Aglieri, Agnello, M., Alessandro, B., Agnese, F., Akram, R. S., Alme, J., Anderssen, E., Andreou, D., Antinori, F., Apadula, N., Atkinson, P., Baccomi, R., Badalà, A., Balbino, A., Bartels, C., Barthel, R., Baruffaldi, F., Belikov, I., Beole, S., Becht, P., Bhatti, A., Bhopal, M., Bianchi, N., Blidaru, M. B., Boca, G., Bok, J., Bonomi, G., Bonora, M., Borri, M., Borshchov, V., Botta, E., Bruno, G. E., Buckland, M., Bufalino, S., Cai, M., Camerini, P., Cariola, P., Catalano, F., Sanchez, C. Ceballos, Chakaberia, I., Chartier, M., Colamaria, F., Colella, D., Collu, A., Concas, M., Contin, G., Costanza, S., Cui, P., Dainese, A., Dainton, J. B., De Cilladi, L., De Martin, C., De Robertis, G., Deng, W., Di Mauro, A., Ding, Y., Durkac, M., Elia, D., Ersdal, M. R., Faggin, M., Fan, F., Fantoni, A., Fecchio, P., Feliciello, A., Feofilov, G., Ferk, A., Ferencei, J., Fiorenza, G., Flores, A. N., Fragiacomo, E., Gajanana, D., Gal, A., Gao, C., Gargiulo, C., Gianotti, P., Giubilato, P., Grant, A., Greiner, L., Grelli, A., Groettvik, O. S., Grosa, F., Hu, C. Guo, Hannigan, R., Hasenbichler, J. A., Helstrup, H., Hillemanns, H., Hills, C., Hindley, P., Hippolyte, B., Hofman, B., Hong, G. H., Huang, G., Iddon, J. P., Ilyas, H., Imhoff, M. A., Isakov, A., Jadlovska, A., Jadlovska, S., Jadlovsky, J., Jaelani, S., Johnson, T., Junique, A., Kalinak, P., Kalweit, A., Keil, M., Khabanova, Z., Khan, H., Kim, B., Kim, C., Kim, J., Kim, T., Klein, J., Kluge, A., Kobdaj, C., Kotliarov, A., Králik, I., Krizek, F., Kugathasan, T., Kuhn, C., Kuijer, P. G., Kushpil, S., Kweon, M. J., Kwon, J. Y., Kwon, Y., La Rocca, P., Lakrathok, A., Langoy, R., Larionov, P., Laudi, E., Lazareva, T., Lea, R., Lemmon, R. C., Li, X. L., Lien, J., Lim, B., Lim, S. H., Lindsay, S., Liu, A., Liu, J., Lunardon, M., Luparello, G., Lupi, M., Mager, M., Maire, A., Malik, Q. W., Mandaglio, G., Manzari, V., Mao, Y., Margagliotti, G. V., Markert, C., Marras, D., Martinengo, P., Masciocchi, S., Masera, M., Masoni, A., Mastroserio, A., Matuoka, P. F. T., Mazza, G., Mazzaschi, F., Mazzoni, M. A., Morel, F, Muccifora, V., Mulliri, A., Musa, L., Nesbo, S. V., Nesterov, D., Norman, J., Park, J., Patra, R. N, Pastore, C., Pei, H., Peng, X., Piano, S., Pinto, C., Pisano, S., Politano, S., Prakasa, E., Prino, F., Protsenko, M., Puccio, M., Rachevski, A., Ramello, L., Rami, F., Ravasenga, I., Rehman, A., Reidt, F., Riggi, F., Røed, K., Röhrich, D., Ronchetti, F., Rosano, A., Rossewij, M. J., Rossi, A., Rui, R., Russo, R., Sadikin, R., Sarritzu, V., Schambach, J., Senyukov, S., Seo, J. J., Shahoyan, R., Shaukat, S., Siddhanta, S., Sitta, M., Snellings, R. J. M., Snoeys, W., Songmoolnak, A., Sonneveld, J., Soramel, F., Suljic, M., Sumowidagdo, S., Sun, D., Sun, X., Tambave, G. J., Tersimonov, G., Tkacik, M., Toppi, M., Trifiró, A., Trogolo, S., Trubnikov, V., Turrisi, R., Tveter, T. S., Tymchuck, I., Ullaland, K., Urioni, M., Usai, G. L., Valle, N., van Doremalen, L. V. R., Vanat, T., Van Hoorne, J. W., Varga-Kofarago, M., Velure, A., Wang, D., Wang, Y., Wikne, J., Wright, J. R., Xu, R., Yang, P., Yin, Z., Yoo, I. -K., Yoon, J. H., Yuan, S., Zaccolo, V., Zhang, E., Zhang, X., Zherebchevskii, V., Zhou, D., Zhu, J., Zhu, Y., Zinovjev, G., Zurlo, N.
A novel approach for designing the next generation of vertex detectors foresees to employ wafer-scale sensors that can be bent to truly cylindrical geometries after thinning them to thicknesses of 20-40$\mu$m. To solidify this concept, the feasibilit
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2105.13000
Autor:
Sanzaro, Salvatore, Bongiorno, Corrado, Badalà, Paolo, Bassi, Anna, Franco, Giovanni, Vasquez, Patrizia, Alberti, Alessandra, La Magna, Antonino
Publikováno v:
Applied Surface Science 539 (2021) 148218
We investigated the complex interaction between a nickel layer and a 4H-SiC substrate under UV-laser irradiation since the early stages of the atomic inter-diffusion. An exhaustive description is still lacking in the literature. A multimethod approac
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2011.05159
Autor:
Badalá, Angela
The study of hadronic resonances plays an important role both in pp and in heavy-ion collisions. Since the lifetimes of short-lived resonances are comparable with the lifetime of the fireball formed in heavy-ion collisions, regeneration and re-scatte
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1910.12528
Autor:
Rascunà, S., Badalà, P., Tringali, C., Bongiorno, C., Smecca, E., Alberti, A., Di Franco, S., Giannazzo, F., Greco, G., Roccaforte, F., Saggio, M.
Publikováno v:
Materials Science in Semiconductor Processing 97 (2019) 62-66
This work reports on the morphological and electrical properties of Ni-based back-side Ohmic contacts formed by laser annealing process for SiC power diodes. Nickel films, 100 nm thick, have been sputtered on the back-side of heavily doped 110 um 4H-
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1906.03089
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.