Zobrazeno 1 - 10
of 175
pro vyhledávání: '"B.T. Chan"'
Autor:
Dunja Radisic, Maryam Hosseini, Hans Mertens, Daisy Zhou, Victor Vega Gonzalez, Shouhua Wang, B.T. Chan, Dmitry Batuk, Emmanuel Dupuy, Zheng Tao, Eugenio Dentoni Litta, Naoto Horiguchi
Publikováno v:
Advanced Etch Technology and Process Integration for Nanopatterning XII.
Autor:
Geert Mannaert, Hans Mertens, Maryam Hosseini, Steven Demuynck, Vy Thi Hoang Nguyen, B.T. Chan, Frédéric Lazzarino
Publikováno v:
Advanced Etch Technology and Process Integration for Nanopatterning XII.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
H. Mertens, R. Ritzenthaler, Y. Oniki, P. Puttarame Gowda, G. Mannaert, F. Sebaai, A. Hikavyy, E. Rosseel, E. Dupuy, A. Peter, K. Vandersmissen, D. Radisic, B. Briggs, D. Batuk, J. Geypen, G. Martinez-Alanis, F. Seidel, O. Richard, B.T. Chan, J. Mitard, E. Dentoni Litta, N. Horiguchi
Publikováno v:
2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.