Zobrazeno 1 - 10
of 168
pro vyhledávání: '"B.J. Inkson"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Materials Characterization. 141:362-369
Helium ion microscopy (HIM) offers potential as a high spatial resolution technique for imaging insulating samples that are susceptible to charging artifacts. In this study helium and neon ion microscopy are used to image cracking in microindented sa
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
In this study, a combination of 3D FIB tomography and incremental surface polishing has been used to characterize cracking beneath 0.5 kg and 1 kg Vickers indentations on silicon nitride. It is shown that a half-penny cracking regime exists even for
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c82d0994137c129ca079d09d9bd51b31
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
I. Altpeter, J. Epp, M.E. Fitzpatrick, T. Fuchs, R. Hanke, G. Hübschen, B.J. Inkson, M.K. Khan, R.Gr. Maev, M. Salamon, C. Sklarczyk, K. Szielasko, R. Tschuncky, Q.Y. Wang, S. Zabler
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bf8b4cdab733ef91f4b84cd07d60918d
https://doi.org/10.1016/b978-0-08-100040-3.01002-6
https://doi.org/10.1016/b978-0-08-100040-3.01002-6