Zobrazeno 1 - 2
of 2
pro vyhledávání: '"B.J. Dutt"'
Publikováno v:
International Symposium for Testing and Failure Analysis.
Communication Signal Processors (CSP) did not have the Signal-to-noise ratio (SNR) performance expected. Significant differences were noticed between SNR values at wafer level and package testing. The analog section of the chip was suspected to be th
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::65f9bdc63438ced4e61b705a90e5864b
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2000p0323
https://doi.org/10.31399/asm.cp.istfa2000p0323
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.