Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"B. Le Teurnier"'
Autor:
Matthieu Boffety, P. Goguillon, S. Roussel, A. Martin, L. Leviandier, P. Potet, B. Le Teurnier, V. Noguier, H. Sauer, N. Vannier, François Goudail, J. Dupont
Publikováno v:
Electro-optical and Infrared Systems: Technology and Applications XVIII and Electro-Optical Remote Sensing XV
Electro-optical and Infrared Systems: Technology and Applications XVIII and Electro-Optical Remote Sensing XV, Sep 2021, Online Only, United States. pp.23, ⟨10.1117/12.2596135⟩
Electro-optical and Infrared Systems: Technology and Applications XVIII and Electro-Optical Remote Sensing XV, Sep 2021, Online Only, United States. pp.23, ⟨10.1117/12.2596135⟩
We report on the development and field trials of an active polarimetric imager in the SWIR domain. Polarization states are controlled for both emission and analysis. Based on past experience, we focus on Orthogonal State Contrast (OSC) imaging for wh
Publikováno v:
Imaging and Applied Optics 2019 (COSI, IS, MATH, pcAOP).
Scatter-plate microscopy is a lensless imaging method using a simple groundglass diffuser instead of a microscope objective. In this paper we describe further application of deconvolution improving both contrast and resolution of the acquired images.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Applied optics [Appl Opt] 2022 Aug 20; Vol. 61 (24), pp. 7273-7282.
Publikováno v:
Optics express [Opt Express] 2022 Mar 14; Vol. 30 (6), pp. 9534-9547.
Publikováno v:
Optics express [Opt Express] 2019 Aug 05; Vol. 27 (16), pp. 23049-23058.