Zobrazeno 1 - 10
of 23
pro vyhledávání: '"B. Hutsel"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Brian Stoltzfus, W. Stygar, M. Wisher, D. Reisman, E. Breden, R. Focia, B. Hutsel, T. Mulville, D. Muron, M. Savage, J. Leckbee, G. Bleier, D. Huber, K. Austin, D. Jaramillo, O. Johns, D. Lucero, G. McKee, M. Sceiford, C. Turner, F. Gruner, D. Rose, D. Welch
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6660abf013f93aff7706cb140f79450f
https://doi.org/10.2172/1761980
https://doi.org/10.2172/1761980
Publikováno v:
2007 16th IEEE International Pulsed Power Conference.
Summary form only given. A 1 MV, SF6 filled, laser triggered gas switch has been installed on the University of Missouri pulsed power test stand to study the factors affecting runtime and jitter. The test stand consists of a 2.8 MV, 450 kJ Marx bank
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Hutchinson, T. M., Awe, T. J., Bauer, B. S., Hutsel, B. T., Yager-Elorriaga, D. A., Yates, K. C., Klemmer, A. W., Hatch, M. W., Kreher, S. E., Yu, E. P., Gilmore, M.
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 10/21/2021, Vol. 130 Issue 15, p1-12, 12p
Autor:
Luo, Wei, Li, Yongdong, Wang, Hongguang, Liu, Chunliang, Guo, Fan, Zhang, Lei, Gu, Yu, Zhang, Jianwei
Publikováno v:
Journal of Applied Physics; 2019, Vol. 125 Issue 16, pN.PAG-N.PAG, 10p, 3 Color Photographs, 2 Diagrams, 12 Graphs
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Review of Scientific Instruments; Aug2022, Vol. 93 Issue 8, p1-8, 8p
Publikováno v:
Review of Scientific Instruments; Aug2022, Vol. 93 Issue 8, p1-11, 11p