Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Azhaganantham Arulmurugan"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Journal of Electronic Testing. 36:577-590
High temperature during test mode and the large volume of test data are the two prominent challenges in the testing of System-on-Chip (SoC). Temperature relies on the spatial power distribution between the blocks of the chip. An efficient don’t car
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::6e975486c851e93dc829d8c62b8994d1
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05902-4
https://doi.org/10.1007/s10836-020-05902-4
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.