Zobrazeno 1 - 10
of 106
pro vyhledávání: '"Axelrad, V."'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
In Microelectronics Journal June 2006 37(6):526-533
Autor:
Axelrad, V.1
Publikováno v:
International Journal of Numerical Modelling. May92, Vol. 5 Issue 2, p67-81. 15p.
Autor:
Axelrad, V.1
Publikováno v:
International Journal of Numerical Modelling. Mar89, Vol. 2 Issue 1, p31-52. 22p.
Kniha
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
2011 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices (SISPAD); 2011, p175-178, 4p
Autor:
Smayling, M.C., Axelrad, V.
Publikováno v:
2009 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes & Devices; 2009, p1-4, 4p
Autor:
Yoon Huh, Kyungjin Min, Bendix, P., Axelrad, V., Narayan, R., Jau-Wen Chen, Johnson, L.D., Voldman, S.H.
Publikováno v:
2005 Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium; 2005, p1-8, 8p
Integrated Simulation Flow for Self-Consistent Manufacturability and Circuit Performance Evaluation.
Autor:
Shibkov, A., Axelrad, V.
Publikováno v:
2005 International Conference On Simulation of Semiconductor Processes & Devices; 2005, p127-130, 4p