Zobrazeno 1 - 10
of 188 079
pro vyhledávání: '"Atomic Force Microscope"'
Autor:
Proksch, Roger, Wagner, Ryan
We demonstrate an interferometric piezoresponse force microscopy (PFM) method for quantifying the full, three-dimensional response of piezoelectric material without requiring sample rotation. We show that this approach yields quantitative 3D measurem
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2410.03340
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
REZAEI, IRAJ1 (AUTHOR), SADEGHI, ALI1 (AUTHOR) a_sadeghi@damavandiau.ac.ir
Publikováno v:
Journal of Mechanics in Medicine & Biology. Jun2024, Vol. 24 Issue 5, p1-10. 10p.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Mahalakshmi, N.1, Parthasarathy, M.1 mps2k7@gmail.com
Publikováno v:
Journal of Scientific Research. 2024, Vol. 16 Issue 2, p449-457. 9p.
Autor:
Rezaei, Iraj, Sadeghi, Ali a_sadeghi@damavandiau.ac.ir
Publikováno v:
Biochemistry & Cell Biology. Dec2023, Vol. 101 Issue 6, p531-537. 7p.
Dispersive readout of a silicon quantum device using an atomic force microscope-based rf gate sensor
Publikováno v:
Appl. Phys. Lett. 123, 093502 (2023)
We demonstrate dispersive charge sensing of Si/SiGe single and double quantum dots (DQD) by coupling sub-micron floating gates to a radio frequency reflectometry (rf-reflectometry) circuit using the tip of an atomic force microscope (AFM). Charge sta
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/2305.05571