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Autor:
ATENCIO ORTIZ, PEDRO SANDINO1 pedroatencio@itm.edu.co, ARIAS GALLEGO, AUGUSTO1, ARIAS CORREA, ALBERTO MAURICIO1
Publikováno v:
Revista EIA. jul-dic2015, Vol. 12 Issue 24, p13-25. 13p.
Publikováno v:
Revista EIA, Issue: 24, Pages: 13-25, Published: DEC 2015
La profundidad de campo (DOF, por sus siglas en inglés) o profundidad de foco es una característica de un sistema óptico con una configuración en particular, que hace referencia al rango espacial o de distancia que dicha configuración permite ma
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______618::d3ed5b95f15c2912bb79046ac220f3f2
http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1794-12372015000200002&lng=en&tlng=en
http://www.scielo.org.co/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S1794-12372015000200002&lng=en&tlng=en
Autor:
Atencio Ortiz, Pedro Sandino
Publikováno v:
Repositorio UN
Universidad Nacional de Colombia
instacron:Universidad Nacional de Colombia
Universidad Nacional de Colombia
instacron:Universidad Nacional de Colombia
En este trabajo se propone un método computacional para clasificar anomalías relacionadas con ausencia de información sobre modelos tridimensionales de forma libre. Para ello, se hizo una exploración descriptiva de las propiedades geométricas gl
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::344b4746c6106f0531879ecd09f14de4
https://repositorio.unal.edu.co/handle/unal/10197
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