Zobrazeno 1 - 5
of 5
pro vyhledávání: '"Asselborn, S. A."'
In recent years several methods to overcome diffraction limit in the far field microscopy have been demonstrated. Still the problem of superresolution is reliably solved only for fluorescent microscopy, giving a resolution of up to 20-30nm. Obtaining
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1309.0472
Publikováno v:
Technical Physics Letters. Aug2014, Vol. 40 Issue 8, p640-643. 4p.
Publikováno v:
Technical Physics Letters. Feb2008, Vol. 34 Issue 2, p159-162. 4p. 1 Black and White Photograph, 2 Graphs.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; Nov2006, Issue 1, p60240D-60240D-6, 6p