Zobrazeno 1 - 10
of 20
pro vyhledávání: '"Ashforth, Simon A."'
In femtosecond laser micromachining, the ablation threshold is a key processing parameter that characterises the energy density required to cause ablation. Current techniques for measuring the ablation threshold such as the diameter regression and di
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1802.10332
Publikováno v:
Appl. Phys. A (2016) 122: 449
In laser micromachining, the ablation threshold (minimum fluence required to cause ablation) is a key performance parameter and overall indicator of the efficiency of material removal. For pulsed laser micromachining, this important observable depend
Externí odkaz:
http://arxiv.org/abs/1611.05333
Autor:
Oosterbeek, Reece N., Ward, Thomas, Ashforth, Simon, Bodley, Owen, Rodda, Andrew E., Simpson, M. Cather
Publikováno v:
In Optics and Lasers in Engineering September 2016 84:105-110
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Heisterkamp, Alexander, Herman, Peter R., Meunier, Michel, Osellame, Roberto, Ashforth, Simon A., Oosterbeek, Reece N., Simpson, M. Cather
Publikováno v:
Proceedings of SPIE; March 2017, Vol. 10094 Issue: 1 p100941O-100941O-9, 908479p
Autor:
Simpson, M. Cather, Thompson, Sarah J., Ashforth, Simon, Bodley, Owen, Oosterbeek, Reece, Ware, Hayley, Hosking, Peter
Publikováno v:
2014 OptoElectronics & Communication Conference & Australian Conference on Optical Fibre Technology; 2014, p319-321, 3p
Autor:
Oosterbeek, Reece N., Ward, Thomas, Corazza, Carsten, Bodley, Owen, Ashforth, Simon, Rodda, Andrew, Simpson, M. Cather
Publikováno v:
2016 Conference on Lasers & Electro-Optics (CLEO); 2016, p1-2, 2p
Publikováno v:
2016 Conference on Lasers & Electro-Optics (CLEO); 2016, p1-2, 2p