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pro vyhledávání: '"Aschenbrenner, Rolf"'
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2004 44(5):797-803
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2004 44(2):309-314
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2002 42(3):391-398
Autor:
Kloeser, Joachim *, Heinricht, Katrin, Jung, Erik, Lauter, Liane, Ostmann, Andreas, Aschenbrenner, Rolf, Reichl, Herbert
Publikováno v:
In Microelectronics Reliability 2000 40(3):497-505
