Zobrazeno 1 - 10
of 32
pro vyhledávání: '"Arslan, Saad"'
Autor:
Asghar, Malik Summair1,2 (AUTHOR), Arslan, Saad3 (AUTHOR), Kim, HyungWon1 (AUTHOR) hwkim@chungbuk.ac.kr
Publikováno v:
Sensors (14248220). Dec2023, Vol. 23 Issue 23, p9612. 17p.
Autor:
Asghar, Malik Summair1,2 (AUTHOR) summair@chungbuk.ac.kr, Arslan, Saad3 (AUTHOR) saad.a@ieee.org, Al-Hamid, Ali A.1 (AUTHOR) alihamid@chungbuk.ac.kr, Kim, HyungWon1 (AUTHOR) hwkim@chungbuk.ac.kr
Publikováno v:
Sensors (14248220). Jul2023, Vol. 23 Issue 14, p6275. 13p.
Autor:
Shah, Ghafoor, Arslan, Saad
Electronic systems installed in their operation environments often require regular testing. The nanometer transistor size in new IC design technologies makes the electronic systems more vulnerable to defects. Due to certain reasons like wear out or o
Externí odkaz:
http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-70791
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.