Zobrazeno 1 - 10
of 34
pro vyhledávání: '"Arnabat J"'
Publikováno v:
LASER THERAPY. 21:255-268
Objective: To analyse microleakage in Class V cavity preparation with Er;Cr:YSGG at different parameters using a self-etching adhesive system. Background: Several studies reported microleakage around composite restorations when cavity preparation is
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::6d57ce89f5f33b558eff6bba49854b31
https://doi.org/10.5978/islsm.12-or-14
https://doi.org/10.5978/islsm.12-or-14
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Garcia, Valentin, Arnabat, J., Comesaña, Rafael, Kasem, Khaled, Ustrell, Josep, Pasetto, Stefano, Segura, Oscar, ManzanaresCéspedes, Maria, Carvalho-Lobato, Patricia, Garcia, Valentin Javier, Comesaña, Rafael, Ustrell, Josep Maria, Segura, Oscar Pozuelo, ManzanaresCéspedes, Maria Cristina
Publikováno v:
Lasers in Medical Science; Aug2016, Vol. 31 Issue 6, p1185-1194, 10p
Publikováno v:
Medicina Oral Patología Oral y Cirugia Bucal. :S136
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::0bf129d3745f1152f21e96df76b46c1a
https://doi.org/10.4317/medoral.17643635
https://doi.org/10.4317/medoral.17643635
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Proceedings of the 17th International Conference on Pattern Recognition, 2004 (ICPR 2004); 2004, p36-36, 1p