Zobrazeno 1 - 10
of 10
pro vyhledávání: '"Apaydin, Emre"'
Publikováno v:
In Brazilian Journal of Otorhinolaryngology September-October 2022 88(5):651-656
Autor:
Apaydın, Emre *, İkincioğulları, Aykut, Çolak, Mustafa, Atan, Doğan, Ensari, Serdar, Dere, Hacı Hüseyin
Publikováno v:
In Journal of Voice July 2020 34(4):649-649
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Atan, Doğan *, Apaydın, Emre, Özcan, Kürşat Murat, İkincioğulları, Aykut, Çetin, Mehmet Ali, Dere, Hüseyin
Publikováno v:
In Journal of Voice January 2017 31(1):131-131
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Publikováno v:
Volume: 6, Issue: 1 12-14
ENT Updates
ENT Updates
Objective: Inflammation has an important place in chronic otitis media with effusion (COME) etiology. Neutrophil to lymphocyte ratio (NLR) and platelet to lymphocyte ratio (PLR) are simple and cheap tests that show inflammation and can be calculated
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=tubitakulakb::b8981c361fdde4f43aecdf00022ad3a6
https://dergipark.org.tr/tr/pub/entupdates/issue/27588/330095
https://dergipark.org.tr/tr/pub/entupdates/issue/27588/330095
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Apaydin, Emre
Düşük faz gürültülü RF işaret üretimi bir çok uygulama için oldukça önemlidir. Bu uygulamalara modern komünikasyon sistemleri ve radar uygulamalari örnek verilebilir. Doppler radar, hareketli cisimlerin hizlarini Doppler etkisinden fay
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_____10208::f653d7bd4587da8fa38b05d2ef2fdf90
https://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/338787
https://acikbilim.yok.gov.tr/handle/20.500.12812/338787
Autor:
Lee, Wooram, Plouchart, Jean-Olivier, Ozdag, Caglar, Aydogan, Yigit, Yeck, Mark, Cabuk, Alper, Kepkep, Asim, Reynolds, Scott K., Apaydin, Emre, Valdes-Garcia, Alberto
Publikováno v:
IEEE Journal of Solid-State Circuits; Sep2018, Vol. 53 Issue 9, p2512-2531, 20p