Zobrazeno 1 - 8
of 8
pro vyhledávání: '"Anzinger, Sebastian"'
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pezone, Roberto, Anzinger, Sebastian, Baglioni, Gabriele, Wasisto, Hutomo Suryo, Sarro, Pasqualina M., Steeneken, Peter G., Vollebregt, Sten
Publikováno v:
Microsystems & Nanoengineering; 6/4/2024, Vol. 10 Issue 1, p1-1, 1p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Wasisto HS; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany. hutomosuryo.wasisto@infineon.com., Anzinger S; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany., Acanfora G; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany.; Institute of Semiconductor Technology (IHT) and Laboratory for Emerging Nanometrology (LENA), Technische Universität Braunschweig, Hans-Sommer-Str. 66, Braunschweig, Germany., Farrel A; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany.; TUM School of Natural Sciences, Technische Universität München, James-Franck-Str. 1, Garching, Germany., Sabatini V; SAATI SPA, Via Milano 14, Appiano Gentile, Como, Italy., Grimoldi E; SAATI SPA, Via Milano 14, Appiano Gentile, Como, Italy., Marelli V; SAATI SPA, Via Milano 14, Appiano Gentile, Como, Italy., Ovsiannikov N; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany.; TUM School of Computation, Information, and Technology (CIT), Technische Universität München, Arcisstraße 21, München, Germany., Tkachuk K; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany., Tosolini G; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany., Lucignano C; SAATI SPA, Via Milano 14, Appiano Gentile, Como, Italy., Mietta M; SAATI SPA, Via Milano 14, Appiano Gentile, Como, Italy., Zhang G; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany., Fueldner M; Infineon Technologies AG, Am Campeon 1-15, Neubiberg, Germany., Peiner E; Institute of Semiconductor Technology (IHT) and Laboratory for Emerging Nanometrology (LENA), Technische Universität Braunschweig, Hans-Sommer-Str. 66, Braunschweig, Germany. e.peiner@tu-braunschweig.de.
Publikováno v:
Communications engineering [Commun Eng] 2024 Sep 23; Vol. 3 (1), pp. 136. Date of Electronic Publication: 2024 Sep 23.