Zobrazeno 1 - 3
of 3
pro vyhledávání: '"Anna M. Brosa"'
Publikováno v:
Microelectronic Engineering. 49:119-133
The current trends in decreasing the minimum feature sizes in CMOS technologies are producing new failure mechanisms for which the classical test methods become inefficient. This situation causes a growing concern in the design and test communities d
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::a8b6f056c8bdbc65ab33fddbfd8dc900
https://doi.org/10.1016/s0167-9317(99)00433-5
https://doi.org/10.1016/s0167-9317(99)00433-5
Autor:
Anna M. Brosa, Joan Figueras
Publikováno v:
Journal of Electronic Testing. 14:23-31
A unified approach to tackle the characterization of the floating gate defect in analog and mixed-signal circuits is introduced. An electrical level model of the defective circuit is proposed extending previous models used effectively in the digital
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bb64fce9796c8d4b212bc67b4dba7a62
https://doi.org/10.1023/a:1008388903741
https://doi.org/10.1023/a:1008388903741
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.