Zobrazeno 1 - 10
of 99
pro vyhledávání: '"Anh Huy Tuan Le"'
Autor:
Hyeongsik Park, Doyoung Kim, Junhee Jung, Duy Phong Pham, Anh Huy Tuan Le, Jaehyun Cho, Shahzada Qamar Hussain, Junsin Yi
Publikováno v:
Heliyon, Vol 4, Iss 10, Pp e00835- (2018)
A hemisphere-array textured glass substrate was fabricated for the development of an improved thin-film (TF) silicon solar cell. The HF-H2SO4-etchant system influenced the light path owing to the formation of the strong fluorine-containing HSO3F acid
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/9d451d361f2a4840a07045368503764b
Publikováno v:
Progress in Photovoltaics: Research and Applications. 31:536-545
Autor:
Anh Huy Tuan Le, Ruy S. Bonilla, Lachlan E. Black, Johannes P. Seif, Thomas G. Allen, Robert Dumbrell, Christian Samundsett, Ziv Hameiri
Publikováno v:
Solar RRL.
Publikováno v:
2022 IEEE 49th Photovoltaics Specialists Conference (PVSC).
Publikováno v:
2022 IEEE 49th Photovoltaics Specialists Conference (PVSC).
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Pramod Koshy, Rong Liu, Leigh R Sheppard, W. Joe, Anh Huy Tuan Le, Xinxin Lu, Charles C. Sorrell, Imrana I. Kabir, Reza Shahmiri, W.-F. Chen
Publikováno v:
Journal of Materials Science. 56:18341-18343
Autor:
Anh Huy Tuan Le, Pramod Koshy, W.-F. Chen, Rong Liu, Leigh R Sheppard, Imrana I. Kabir, Charles C. Sorrell, Reza Shahmiri, Dorian A. H. Hanaor, Xinxin Lu
Publikováno v:
Journal of Materials Science. 55:8061-8087
Anatase thin films spin coated on soda–lime–silica (SLS) glass and unpolished (001) rutile were annealed at 200–550 °C for 8 h, followed by GAXRD, Raman, XPS, SIMS, AFM, TEM, UV–Vis, ellipsometry, and MB dye degradation. Films on SLS substra
Autor:
W.-F. Chen, W. Joe, Anh Huy Tuan Le, Imrana I. Kabir, Xinxin Lu, R. Shamiri, Charles C. Sorrell, Leigh R Sheppard, Pramod Koshy, Rong Liu
Publikováno v:
Journal of Materials Science. 55:3774-3794
The present work reports data for TiO2 thin films on borosilicate glass and (001) single-crystal TiO2, annealed at 200–550 °C for 8 h. Characterization included GAXRD, laser Raman microspectroscopy, AFM, UV–Vis, XPS, SIMS, TEM, ellipsometry, and
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.