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pro vyhledávání: '"Anger, Pascal M."'
Autor:
Anger, Pascal M.
Publikováno v:
LF.
Siegen, Universiẗat, Diss., 2003.
Externí odkaz:
http://www.ub.uni-siegen.de/pub/diss/fb8/2003/anger/anger.pdf
http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=968310354
http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=968310354
Autor:
Anger, Pascal M.
Im Rahmen der Arbeit wurde ein optisches Raster-Nahfeld-Mikroskop entwickelt, das Messungen unter Ultrahochvakuum, starken Magnetfeldern und tiefen Temperaturen ermöglicht. Das Mikroskop ermöglicht sowohl Kraftmikroskopie mittels Scherkraftdetektio
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od_______691::3815145aedceee8f078f40466d335181
http://dokumentix.ub.uni-siegen.de/opus/volltexte/2005/42/
http://dokumentix.ub.uni-siegen.de/opus/volltexte/2005/42/
