Výsledky vyhledávání

Knihovna AV ČR, v. v. i.

Odhlásit
Přihlášení
Jazyk
- English
- Čeština
Instituce

Pokročilé vyhledávání

Zahrnout EIZ

Zachovat současné nastavení filtrů

EXPAND:"fulltext"

Domovská stránka
Vyhledávání: "Ang, C.H."
Navrhnout nákup titulu

Zobrazeno 1 - 10 of 151 pro vyhledávání: '"Ang, C.H."'

Řazení

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

Vybrat výsledek číslo 1 1

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 2 2

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 3 3

Akademický článek

Characterization of interface degradation in deep submicron MOSFETs by gate-controlled-diode measurement

Autor: Huang, J, Chen, T.P ^∗, Tse, M.S, Ang, C.H

Publikováno v: In Microelectronics Journal August 2002 33(8):639-643

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 4 4

Akademický článek

Does short wavelength lithography process degrade the integrity of thin gate oxide?

Autor: Kim, S.J., Cho, B.J., Chong, P.F., Chor, E.F., Ang, C.H., Ling, C.H., Joo, M.S., Yeo, I.S.

Publikováno v: In Microelectronics Reliability August-October 2000 40(8-10):1609-1613

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 5 5

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 6 6

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 7 7

Akademický článek

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vybrat výsledek číslo 8 8

Conference

Confined Planar Helix: A Novel Waveguide Structure.

Autor: Aditya, S., Tan, M., Nair, R., Ang, C.H., Ang, C.B., Pham, Q.H.

Publikováno v: 2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (9780780375420); 2006, p1295-1298, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 9 9

Conference

Evaluation of the strain state in SiGe/Si heterostructures by high resolution x-ray diffraction and convergent beam electron diffraction.

Autor: Suey Li Toh, Li, K., Ang, C.H., Rao, R., Er, E., Loh, K.P., Boothroyd, C.B., Chan, L.

Publikováno v: Proceedings of the 12th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits, 2005 (IPFA 2005); 2005, p302-305, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat výsledek číslo 10 10

Conference

High spatial resolution strain measurement of deep sub-micron semiconductor devices using CBED.

Autor: Suey Li Toh, Li, K., Ang, C.H., Er, E., Redkar, S., Loh, K.P., Boothroyd, C.B., Chan, L.

Publikováno v: Proceedings of the 11th International Symposium on the Physical & Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2004 (IEEE Cat. No.04TH8743); 2004, p143-146, 4p

Zobrazit plný text záznamu

Vybrat vše | Vybrané výsledky:

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
Další »
[16]

Vyhledávací nástroje:

RSS
Poslat e-mailem

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání

Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR

Zdroje

Pouze tištěné dokumenty

Zahrnout EIZ

93 Akademické články
51 Konferenční materiály
16 Knihy
3 Recenze
2 Časopisy

5 quantum tunneling
4 gate array circuits
4 mosfets
4 negative bias temperature instability (nbti)
3 artificial intelligence
3 artificial neural networks
3 energy-band theory of solids
3 field programmable gate arrays
3 metal oxide semiconductors
3 mosfet
3 signals & signaling
3 similarity retrieval
3 ultrathin gate oxide
2 annealing
2 atpg
2 barrier height
2 burns
2 charge trapping
2 clock gating
2 cmosfets
2 dft
2 electric charge
2 electric currents
2 interactive
2 interface degradation
2 knudsen number
2 lubrication & lubricants
2 metal oxide semiconductor field-effect transistors
2 monte carlo method
2 negative bias temperature instability
2 oxides
2 physics
2 reynolds number
2 semiconductor-insulator interfaces
2 taguchi methods
2 thin films
2 transition regime
2 transport theory
2 virtual circuit
1 activation energy
1 aliphatic hydrocarbon
1 amputation
1 analysis
1 angioplasty
1 animals
1 asian
1 autoimmune encephalitis
1 axon
1 band-to-band tunneling
1 biodegradation

18 ieee
7 springer verlag
6 institute of electrical and electronics engineers inc.
5 imperial college press
4 elsevier b.v.
4 elsevier ltd
3 institution of engineering & technology
3 japan society of applied physics
3 lippincott williams and wilkins
3 sae international
2 american institute of physics
2 ieee computer society
2 singapore medical association
2 world scientific publishing company
1 asean neurological association
1 association for computing machinery
1 association for computing machinery (acm)
1 australasian society of cardiac thoracic surgeons
1 avs science and technology society
1 electrochemical soc inc
1 elsevier
1 institute of physics
1 iop
1 john wiley and sons inc
1 korean society of plastic and reconstructive surgeons
1 masyarakat katalis indonesia - indonesian catalyst society (mkics)
1 mdpi
1 national academy of sciences
1 nature publishing group
1 plastics & rubber inst
1 slovene society informatika
1 society of photo-optical instrumentation engineers
1 springer
1 springer nature
1 wiley-vch verlag

9 applied physics letters
9 ieee electron device letters
6 ieee transactions on electron devices
6 lecture notes in computer science
5 sae technical papers
5 selected semiconductor research
4 microelectronics reliability
4 proceedings of the international symposium on the physical and failure analysis of integrated circuits, ipfa
3 biotechnology letters
3 electrochemical and solid-state letters
3 electronics letters (institution of engineering & technology)
3 journal of applied physics
3 microelectronics journal
3 pattern recognition letters
3 singapore medical journal
2 10th international symposium on integrated circuits, devices and systems, isic-2004: integrated systems on silicon - proceedings
2 annual proceedings - reliability physics (symposium)
2 british journal of surgery
2 ieee international reliability physics symposium proceedings
2 international conference on solid-state and integrated circuits technology proceedings, icsict
2 international journal of computational engineering science
2 proceedings of spie - the international society for optical engineering
2 radiation physics and chemistry
2 semiconductor science and technology
1 2003 ieee international reliability physics symposium proceedings, 2003. 41st annual
1 2004 international conference on integrated circuit design & technology (ieee cat. no.04ex866)
1 2004 international conference on integrated circuit design and technology, icicdt
1 2005 digest of technical papers. 2005 symposium on vlsi technology
1 2006 ieee mtt-s international microwave symposium digest (9780780375420)
1 2008 international conference on electronic design, iced 2008
1 2011 international conference on field-programmable technology, fpt 2011
1 7th international symposium on plasma & process-induced damage
1 advances in computing science asian 1998 - 4th asian computing science conference, proceedings
1 annals of plastic surgery
1 archives of plastic surgery
1 bulletin of chemical reaction engineering and catalysis
1 burns open
1 cell reports
1 chinese medical journal
1 communications in computer and information science
1 database and expert systems applications - 12th international conference, dexa 2001, proceedings
1 database and expert systems applications - 13th international conference, dexa 2002, proceedings
1 database and expert systems applications - 9th international conference, dexa 1998, proceedings
1 digest of technical papers - symposium on vlsi technology
1 proceedings 7th international conference on solid-state & integrated circuits technology, 2004
1 proceedings of the 10th international symposium on the physical & failure analysis of integrated circuits (ipfa 2003)
1 proceedings of the 11th international symposium on the physical & failure analysis of integrated circuits. ipfa 2004 (ieee cat. no.04th8743)
1 proceedings of the 12th international symposium on the physical & failure analysis of integrated circuits, 2005 (ipfa 2005)
1 proceedings of the 2004 ieee international reliability physics symposium
1 proceedings of the 9th international symposium on the physical & failure analysis of integrated circuits (cat. no.02th8614)

120 Scopus®
18 Complementary Index
5 Academic Search Ultimate
3 ScienceDirect
3 Business Source Ultimate
2 Supplemental Index

Od:

do:

Možnosti vyhledávání

Tematická mapa
Historie vyhledávání
Pokročilé vyhledávání

Objevte více

Abecední procházení

Hledáte pomoc?

Tipy pro vyhledávání

načítá se......