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pro vyhledávání: '"Andres Felipe Gomez Chacon"'
Autor:
ANDRES FELIPE GOMEZ CHACON
Publikováno v:
Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica
INAOE
Repositorio Institucional del INAOE
INAOE
Repositorio Institucional del INAOE
Reliability degradation due to transistor aging is a major challenge in the design of digital integrated circuits for current and future technology nodes. Bias Temperature Instability (BTI) is the dominant aging mechanisms in digital circuits. BTI gr
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::63827062bbbb54efe50ff3b217f9efbb
http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/845
http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/845
Autor:
Ricardo Andrés Díaz Suárez, Andres Felipe Gomez Chacon, Sebastian Fernando Vera Medina, Victor Alfonso Pabon Castillo
Publikováno v:
Scientia et technica. 24:154
Las enfermedades respiratorias crónicas, tales como el EPOC y el Asma, son responsables de millones de muertes en el mundo, y su prevalencia se ha incrementado principalmente debido al envejecimiento de la población mundial, la exposición al humo
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c7a7fc379b963a5567e97d00b0db9a72
https://doi.org/10.22517/23447214.18451
https://doi.org/10.22517/23447214.18451
Autor:
ANDRES FELIPE GOMEZ CHACON
Publikováno v:
Instituto Nacional de Astrofísica, Óptica y Electrónica
INAOE
Repositorio Institucional del INAOE
INAOE
Repositorio Institucional del INAOE
El continuo escalado tecnológico de los dispositivos MOSFET ha permitido que los circuitos integrados VLSI alcancen una mayor densidad de integración y velocidad de operación, lo cual ha llevado a un incremento en la demanda de circuitos electrón
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______3056::9df5ac28e66c093b761e4b0f9cf67bcc
http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/261
http://inaoe.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1009/261