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Autor:
Christiane Stroth, Heinrich F. Arlinghaus, Christian Ostertag-Henning, Stefan Rinnen, Andreas Riße
Publikováno v:
Applied Surface Science. 349:622-628
Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (ToF-SIMS) was used to characterize and identify minerals in rock samples. ToF-SIMS provides a vast amount of information due to the recording of complete mass spectra with elemental and molecular ion si
Autor:
Andreas Risse
Aufbauend auf den technologischen Grundlagen der Hauptgruppen der Fertigungsverfahren werden ausgewählte Fertigungsverfahren der Feinwerktechnik, Präzisionsgerätetechnik, Mikrostrukturtechnik, Mechatronik in den Hauptgruppen Urformen, Umformen, Tr
Autor:
Andreas Risse
Publikováno v:
Fertigungsverfahren der Mechatronik, Feinwerk-und Präzisionsgerätetechnik ISBN: 9783834815194
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::80ddefe93ad8d0ccca58591dd6cab459
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_3
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_3
Autor:
Andreas Risse
Publikováno v:
Fertigungsverfahren der Mechatronik, Feinwerk-und Präzisionsgerätetechnik ISBN: 9783834815194
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b8da873849fabd52e7d9cebfdf79ad23
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_9
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_9
Publikováno v:
Die Anästhesiologie ISBN: 9783642211249
Ansteigendes durchschnittliches Lebensalter und die Zunahme der Inzidenz des Typ-1- und Typ-2-Diabetes fuhren dazu, dass Diabetes mellitus zu den am haufigsten zu behandelnden Erkrankungen im stationaren Bereich gehort (Pravalenz ca. 30 %). Tatsachli
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c6227dd513e76cf8dbf6f22b7da13716
https://doi.org/10.1007/978-3-642-21125-6_66
https://doi.org/10.1007/978-3-642-21125-6_66
Autor:
Andreas Risse
Publikováno v:
Fertigungsverfahren der Mechatronik, Feinwerk-und Präzisionsgerätetechnik ISBN: 9783834815194
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::2ac4294d81f1bec1b2378d424e09e274
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_6
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_6
Autor:
Andreas Risse
Publikováno v:
Fertigungsverfahren der Mechatronik, Feinwerk-und Präzisionsgerätetechnik ISBN: 9783834815194
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b1e432eea50ad3f64131396033b4e0b8
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_5
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_5
Autor:
Andreas Risse
Publikováno v:
Fertigungsverfahren der Mechatronik, Feinwerk-und Präzisionsgerätetechnik ISBN: 9783834815194
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::8e05a748af8571425fdd78769268e540
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_4
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_4
Autor:
Andreas Risse
Publikováno v:
Fertigungsverfahren der Mechatronik, Feinwerk-und Präzisionsgerätetechnik ISBN: 9783834815194
Der Begriff Mikrostrukturtechnik wird hier bewusst verwendet, um eine Abgrenzung zur Halbleitertechnologie und der darauf basierenden Mikrosystemtechnik herzustellen. Es werden in diesem Kapitel keine Systembetrachtungen erfolgen. In den folgenden Au
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b73e54a03a92c64f4dd64fb4b1e1e8ac
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_10
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4_10
Autor:
Andreas Risse
Publikováno v:
Fertigungsverfahren der Mechatronik, Feinwerk-und Präzisionsgerätetechnik
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https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::fa7d0757f5a332d9d63bc901dc30ef1c
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4
https://doi.org/10.1007/978-3-8348-8312-4