Zobrazeno 1 - 10
of 14
pro vyhledávání: '"Andras E. Vladar"'
Autor:
Michael T. Postek, Andras E. Vladar, John Kramar, Lewis A. Stern, John Notte, Sean McVey, David G. Seiler, Alain C. Diebold, Robert McDonald, C. Michael Garner, Dan Herr, Rajinder P. Khosla, Erik M. Secula
Publikováno v:
AIP Conference Proceedings.
The Helium Ion Microscope (HIM) offers a new, potentially disruptive technique for nano‐metrology. This methodology presents an approach to measurements for nanotechnology and nano‐manufacturing which has several potential advantages over the tra
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::96419dc615d2076e4053fb182b5ecf51
https://doi.org/10.1063/1.2799363
https://doi.org/10.1063/1.2799363
Autor:
Alain G. Deleporte, John A. Allgair, Charles N. Archie, G. W. Banke, Jr., Michael T. Postek, Jr., Jerry E. Schlesinger, Andras E. Vladar, Arnold W. Yanof
Publikováno v:
SPIE Proceedings.
Externí odkaz:
https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::bd3a4ff114ebf2ab15373f39928df082
https://doi.org/10.1117/12.386524
https://doi.org/10.1117/12.386524
Autor:
Ravi Kiran Attota, Hyeonggon Kang, Keana Scott, Richard Allen, Andras E Vladar, Benjamin Bunday
Publikováno v:
Measurement Science & Technology; Dec2018, Vol. 29 Issue 12, p1-1, 1p
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.