Zobrazeno 1 - 10 of 10 pro vyhledávání: '"Andideh, Ebrahim"'
2
Akademický článek
Optical pump and probe measurement of the thermal conductivity of low-k dielectric thin films.
Autor: Daly, Brian C., Maris, Humphrey J., Ford, Wayne K., Antonelli, George A., Wong, Larry, Andideh, Ebrahim
Publikováno v: Journal of Applied Physics; 11/15/2002, Vol. 92 Issue 10, p6005, 5p, 1 Diagram, 2 Charts, 2 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
3
Conference
Al Diffusion in Polycrystalline Cu.
Autor: Gstrein, Florian, Kennel, Harold, Budrevich, Andre, Miner, Barbara, Plombon, John, Andideh, Ebrahim
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 2008, Vol. 1079 Issue 1, p1-6, 6p
Zobrazit plný text záznamu
4
Conference
The Role of Ion Mass on End-of-Range Damage in Shallow Preamorphizing Silicon.
Autor: Clark, Mark H., Jones, Kevin S., Haynes, Tony E., Barbour, Charles J., Minor, Kenneth G., Andideh, Ebrahim
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 2001, Vol. 669 Issue 1, p1-6, 6p
Zobrazit plný text záznamu
5
Conference
Reaction of Excess Silicon Interstitals in the Presence of Arsenic and Germanium.
Autor: Brindos, R., Keys, P. H., Griglione, M., Jones, K. S., Law, M. E., Agarwal, Aditya, Andideh, Ebrahim
Publikováno v: MRS Online Proceedings Library; 2000, Vol. 610 Issue 1, p1-6, 6p
Zobrazit plný text záznamu
6
Akademický článek
Compositional effects on electrical and mechanical properties in carbon-doped oxide dielectric films: Application of Fourier-transform infrared spectroscopy.
Autor: Andideh, Ebrahim, Lerner, Michael, Palmrose, Gerald, El-Mansy, Safaa, Scherban, Tracey, Xu, Guanghai, Blaine, Jeanette
Publikováno v: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; 2004, Vol. 22 Issue 1, p196-201, 6p
Zobrazit plný text záznamu
7
Periodical
Detection of plasma-induced, nanoscale dielectric constant variations in carbon-doped CVD oxides by electrostatic force microscopy
Autor: Gross, Todd S, Soucy, Kevin G, Andideh, Ebrahim, Chamberlin, Kent
Publikováno v: Journal of Physics D: Applied Physics; April 7, 2002, Vol. 35 Issue: 7 p723-728, 6p
Zobrazit plný text záznamu
8
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
9
Akademický článek
Effects of amorphizing species’ ion mass on the end-of-range damage formation in silicon.
Autor: Clark, Mark H., Jones, Kevin S., Haynes, Tony E., Barbour, Charles J., Minor, Kenneth G., Andideh, Ebrahim
Publikováno v: Applied Physics Letters; 6/3/2002, Vol. 80 Issue 22, p4163, 3p, 1 Diagram, 3 Graphs
Zobrazit plný text záznamu
10
Conference
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.

Vyhledávací nástroje:

Upřesnit hledání

Omezení vyhledávání
Plný text Recenzováno Digitální knihovna AV ČR
Zdroje