Výsledky vyhledávání - "Anc, Maria J."

Elektronická kniha

SIMOX [electronic resource] / edited by Maria J. Anc.

Externí odkaz: Kolekce e-knih KNAV Registrovani uzivatele: plny text online 5 minut, dalsi pristup na vyzadani. Registered users: full text online 5 minutes, further access on request.

Conference

Characterization of Si-on-insulator buried layers by FTIR and scatterometry.

Autor: Yakovlev, Victor A., Bosch-Charpenay, Sylvie, Rosenthal, Peter A., Solomon, Peter R., Xu, Jiazhan, Stover, John C., Anc, Maria J., Alles, Michael L.

Publikováno v: Proceedings of SPIE; Nov2000, Issue 1, p90-97, 8p

Zobrazit plný text záznamu

Periodical

Defect Dynamics in Simox Structures as a Function of the Annealing Parameters

Autor: Tan, Yan, Johnson, Benedict, Seraphin, Supapan, Anc, Maria J

Publikováno v: Microscopy and Microanalysis; August 2000, Vol. 6 Issue: 1, Number 1 Supplement 2 p1086-1087, 2p

Zobrazit plný text záznamu

Conference

Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.