Zobrazeno 1 - 10
of 205
pro vyhledávání: '"Analytical electron microscope"'
Autor:
Yoshitsugu TOMOKIYO, Syo MATSUMURA
Publikováno v:
Journal of MMIJ, Vol 133, Iss 3, Pp 58-67 (2017)
Transmission electron microscopy has been playing an important role in research and development of nanotechnology which is common and fundamental in various fields of science and technology such as energy, environmental sciences, information and tele
Externí odkaz:
https://doaj.org/article/2b453db0a329453384027f0b05b4c3a0
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Magnus Garbrecht, Nestor J. Zaluzec
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 26:1518-1521
Akademický článek
Tento výsledek nelze pro nepřihlášené uživatele zobrazit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.
Autor:
Nestor J. Zaluzec
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 26:2068-2070
Autor:
Masashi Watanabe, Ray F. Egerton
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 26:1512-1514
Autor:
Nestor J. Zaluzec
Publikováno v:
Proceedings of the Microscience Microscopy Congress 2021 incorporating EMAG 2021.
Autor:
Martin Pfannmöller
Publikováno v:
Proceedings of the nanoGe Fall Meeting 2019.
Autor:
Nestor J. Zaluzec
Publikováno v:
Ultramicroscopy. 203
A study of the influence of experimental parameters on the sensitivity of x-ray energy dispersive spectroscopy in the analytical electron microscope from 20–200 kV is conducted. Optimization of conditions in the next generation of aberration correc
Publikováno v:
Microscopy and Microanalysis. 25:590-591